P Type M6 Monocrystalline Solar Wafer

P Type M6 Monocrystalline Solar Wafer

P type M6 monokristallijn silicium zonnewafer met een diameter van 223mm is 12,21% groter dan M2 wafer.
Praat nu

Productdetails


M6 solar wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


P type M6 monokristallijn silicium zonnewafer met een lengte van 166mm en diameter van 223mm is 12,21% groter dan M2 wafer. het betekent dat zonnecellen gemaakt van M6 substraat zal 12,21% hoger vermogen dan die gemaakt van M2 substraat.


1      Materiaaleigenschappen

 

Eigenschap

Specificatie

Inspectiemethode

Groeimethode

Cz


Kristallijnheid

Monokristallijn

 

Preferentiële Etch Technieken(ASTM F47-88)

Geleidbaarheidstype

P-type

Napson EC-80TPN

P/N

Dopant (Dopant)

 

Boor, Gallium

 

-

Zuurstofconcentratie[Oi]

≦8E+17 bij/cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Koolstofconcentratie[Cs]

5E+16 bij/cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Dichtheid van de pits (dislocatiedichtheid)

500 cm-3

Preferentiële Etch Technieken(ASTM F47-88)

Oppervlakteoriëntatie

<100>±3°

Röntgendiffractiemethode (ASTM F26-1987)

Oriëntatie van pseudo vierkante zijden

<010>,<001>±3°

Röntgendiffractiemethode (ASTM F26-1987)

 

2      Elektrische eigenschappen

 

Eigenschap

Specificatie

Inspectiemethode

Weerstand

0,5-1,5 Ωcm

Wafer inspectiesysteem

MCLT (levensduur minderheidsvervoerder)

50 μs

Sinton BCT-400

(met injectieniveau: 1E15 Cm-3)

 

3      Geometrie

 

Eigenschap

Specificatie

Inspectiemethode

Geometrie

Volledig vierkant


Wafer Side lengte

166±0,25 mm

waferinspectiesysteem

Wafer Diameter

φ223±0,25 mm

waferinspectiesysteem

Hoek tussen aangrenzende zijden

90° ± 0,2°

waferinspectiesysteem

Dikte

180+20/-10 μm;

170+20/-10 μm

waferinspectiesysteem

TTV (Totale diktevariatie)

27 μm

waferinspectiesysteem


 166mmx166mm M6 solar wafer

 

 

4      Oppervlakte-eigenschappen

 

Eigenschap

Specificatie

Inspectiemethode

Snijmethode

Dw

--

Oppervlaktekwaliteit

zoals gesneden en gereinigd, geen zichtbare verontreiniging, (olie of vet, vingerafdrukken, zeepvlekken, drijfmestvlekken, epoxy/lijmvlekken zijn niet toegestaan)

waferinspectiesysteem

Zaagmarkeringen / stappen

≤ 15μm

waferinspectiesysteem

Bow

≤ 40 μm

waferinspectiesysteem

Warp

≤ 40 μm

waferinspectiesysteem

Chip

diepte ≤0,3 mm en lengte ≤ 0,5 mm Max 2/pc's;   geen V-chip

Naakte ogen of waferinspectiesysteem

Micro scheuren / gaten

Niet toegestaan

waferinspectiesysteem




Hot Tags: p type m6 monokristallijn zonnewafer, China, leveranciers, fabrikanten, fabriek, gemaakt in China

Onderzoek

You Might Also Like