4 inch (100 mm) wafer

De productlijn van Microelectronics omvat zowel enkelzijdig gepolijste (SSP) als dubbelzijdig gepolijste (DSP) wafer substraten. ● 4 "P-type, gepolijste siliciumwafer (25 stuks) ● Afdrukstand: 100 ● Weerstandsvermogen: 0,1 - 40 Ohm • cm (dit kan per batch variëren) ● Dikte: 525 +/- 20um ● Prime / Monitor / Test Grade
Praat nu

Productdetails

【Product Introductie】

4 inch (100 mm) gepolijste wafer DSC01065 730


4 inch (100 mm) gepolijste wafer DSC01070 730


MATERIËLE EIGENSCHAPPEN

Parameter

karakteristiek

ASTM-controlemethode

Type / Doteerstof

P, boor N, fosfor N, antimoon N, arseen

F42

oriëntaties

<100>, <111> verwijder de oriëntaties volgens de specificaties van de klant

F26

Zuurstofinhoud

10 18 ppmA Aangepaste toleranties per specificatie van de klant

F121

Koolstofgehalte

<0,5 ppma="" aangepaste="" toleranties="" per="" specificatie="" van="" de="">

F123

Weerstandswaarden - P, Boron-N, fosforig-N, antimoon-N, arseen

0,001 - 50 ohm · cm
0,1 - 40 ohm · cm
0,005 - 0,025 ohm · cm
<0,005 ohm="">

F84

 

MECHANISCHE EIGENSCHAPPEN

Parameter

eerste

Monitor / test A

Test

ASTM-methode

Diameter

100 ± 0,2 mm

100 ± 0,2 mm

100 ± 0,5 mm

F613

Dikte

525 ± 20 μm (standaard)

525 ± 25 μm (standaard) 381 ± 25 μm 625 ± 25 μm 700 ± 25 μm 800 ± 25 μm 1000 ± 25 μm 1500 ± 25 μm

525 ± 50 μm (standaard)

F533

TTV

<5>

<10>

<15>

F657

Boog

<30>

<30>

<40>

F657

Wikkelen

<30>

<30>

<40>

F657

Randafronding

SEMI-STD

F928

het merken

SEMI-STD-flats, alleen primaire SEMI-flat

F26, F671

  

OPPERVLAKKWALITEIT

Parameter

eerste

Monitor / test A

Test

ASTM-methode

Front Side Criteria

Gesteldheid van de oppervlakte

Chemisch mechanisch gepolijst

Chemisch mechanisch gepolijst

Chemisch mechanisch gepolijst

F523

Oppervlakteruwheid

<2 a="">

<2 a="">

<2 a="">


Verontreiniging, deeltjes @> 0,3 μm

= 20

= 20

= 30

F523

Haze, putten, sinaasappelschil

Geen

Geen

Geen

F523

Saw Marks, striations

Geen

Geen

Geen

F523

Back Side Criteria

Scheuren, kraaienvoeten, zagen vlekken, vlekken

Geen

Geen

Geen

F523

Gesteldheid van de oppervlakte

Caustic geëtst

F523

  

Productbeschrijving

De productlijn van Microelectronics omvat zowel enkelzijdig gepolijste (SSP) als dubbelzijdig gepolijste (DSP) wafer substraten. Dubbelzijdig gepolijste wafels zijn typisch vereist in halfgeleider-, MEMS- en andere toepassingen waarbij wafels met strak geregelde vlakheidseigenschappen vereist zijn.

 

We bieden ook rechthoekige en vierkante stukken wafel. Een in wezen realiseerbaar bereik van de randlengtes voor siliciumwafels is 5 x 5 mm2 ... 100 x 120 mm2 enz. Het kosten / wafelstuk hangt af van het materiaal alsmede van het aantal vereiste wafelstukken.

 

Op maat snijden en polijsten is ook mogelijk volgens uw vereisten. Neem dan gerust contact met ons op.

 

Producteigenschappen

·          4 "P / N type, gepolijste siliciumwafer (25 stks)

·          Oriëntatie: 100

·          Weerstandsvermogen: 0.1 - 40 Ohm · cm (het kan van partij tot partij variëren)

·          Dikte: 525 +/- 20um

·          Prime / Monitor / Test Grade


Hot Tags: 4 inch (100 mm) wafer, China, leveranciers, fabrikanten, fabriek, gemaakt in China

Onderzoek

You Might Also Like